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產品簡介 產地類別 進口 SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。 詳情介紹 SZ-100 V2 納米顆粒分析儀 是準確測量小顆粒物理性質的分析工具， 如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定； 還可以用于 檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。 SZ-100 V2納米顆粒分析儀 典型應用包括： 納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。 產品特點 · 同臺儀器可測三種參數 ——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數 · 寬檢測范圍，寬濃度范圍 —— 樣品濃度可達40% · 自動滴定儀 ——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定 · 軟件操作簡單功能*，一鍵測量 · 雙光路雙角度粒徑測量 （90° 和173°） · 采用微量樣品池 技術參數 粒徑測量原理： 動態光散射法（光子相關光譜法） 粒徑測定范圍： 0.3nm ～10μm 粒徑測量精度： ±2%（NIST 可溯源標準粒子100nm） Zeta 電位測量原理： 激光多普勒電泳法 Zeta 電位測量范圍： -500 mV ～ +500 mV 分子量測量原理： Debye plot 分子量測量范圍： 1000 ～ 2×107 Da 測量角度： 90° 和173°（可自動或手動選擇） 樣品量： 12μL ～ 1000μL 上一篇： OEM定制化光譜儀（提供給光譜分析儀器 下一篇： Partica mini LA-350-緊湊型激光粒度儀
